Smoltek

Det framgångsrika resultatet från 1 000-timmarstestet visar att CNF-MIM-kondensatorerna uppfyller branschens krav på stabilitet över tid, och att Smoltek Semi har en lösning som kan bidra till att framtidens högpresterande chip (halvledare) fungerar stabilt och effektivt. Samtidigt stärker resultaten bolagets pågående industrialiseringsarbete med Yageo och andra potentiella partners, vilket ytterligare för tekniken närmare kommersiell produktion.

– Resultaten är extremt lovande – de visar att vårt CNF-MIM-koncept inte bara är högpresterande, utan också fundamentalt tillförlitligt över tid under realistiska driftsförhållanden. Vi har redan delat resultaten med Yageo, och tack vare dessa framsteg kommer nästa livslängdstest att utföras direkt hos dem, säger Farzan Ghavanini, CTO på Smoltek.

Testresultat i korthet 
Testet genomfördes på 20 CNF-MIM-kondensatorer som kontinuerligt drevs i 1 000 timmar vid 85 °C och 2 V – standardförhållanden för livslängdstester inom kondensatorindustrin. Efter testet uppvisade ingen av kondensatorerna någon märkbar förändring i kapacitans. Ännu viktigare är att 19 av 20 enheter bibehöll en isolationsresistans över målnivån på 1 GΩ, vilket överensstämmer med väletablerade branschkriterier.

Den enda enhet som inte uppfyllde målet hade redan före testet startade identifierats som den komponenten med högst läckage i batchen. Sådana tidiga avvikelser (”infant failures") sorteras normalt bort i ett inbränningssteg (”burn-in step”) före tillförlitlighetstestning. Smoltek implementerar nu denna inbränningsprocess, och med det steget på plats förväntar sig bolaget att samtliga enheter framöver ska klara motsvarande testförhållanden.